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技術(shù)文章

Technical articles

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  • 20253-4
    揭秘電子掃描電鏡:工作原理、成像技術(shù)及應(yīng)用領(lǐng)域

    電子掃描電鏡(SEM),全稱掃描電子顯微鏡,是一種先進的微觀分析工具。其工作原理基于電子束與樣品表面的相互作用。當高能電子從電子槍發(fā)射,經(jīng)過聚焦后形成細小的電子束,該電子束在樣品表面按順序逐行掃描。在掃描過程中,電子束與樣品相互作用,激發(fā)出二次電子、背散射電子等信號。這些信號被相應(yīng)的探測器收集,并轉(zhuǎn)換成電信號,最終經(jīng)過處理后形成高分辨率的圖像。SEM的成像技術(shù)主要依賴于二次電子和背散射電子。二次電子主要用于顯示樣品的表面形貌,成像效果具有三維立體感,能夠清晰呈現(xiàn)樣品的微小結(jié)構(gòu)...

  • 20252-25
    日本電子掃描電鏡的樣品制備技巧與注意事項

    日本電子掃描電鏡作為高精度科研儀器,對樣品制備的要求高。以下是樣品制備的技巧與注意事項:技巧方面:選擇合適的固定方法:根據(jù)樣品的性質(zhì)和形態(tài),選擇合適的固定方法,如導電膠帶粘貼、機械固定等,確保樣品在觀察過程中不會移動或變形。注意導電處理:對于不導電或?qū)щ娦圆畹臉悠?,要進行導電處理,如噴鍍導電膜,以提高樣品的導電性,避免荷電效應(yīng)影響圖像質(zhì)量。保持樣品干燥:樣品需干燥無水、無易揮發(fā)溶劑,否則在真空環(huán)境中揮發(fā)出來的水蒸氣或溶劑會引起燈絲故障,影響儀器性能。注意事項:避免污染:樣品在...

  • 20251-17
    SEM掃描電鏡:原理、操作與樣品制備全攻略

    SEM(掃描電鏡)是一種利用聚焦電子束在試樣表面逐點掃描成像的技術(shù),其工作原理類似于閉路電視系統(tǒng)。電子束由三極電子槍發(fā)射,經(jīng)過加速電壓和多個電子透鏡聚焦后,按順序逐行掃描樣品表面,激發(fā)樣品產(chǎn)生二次電子、背散射電子等物理信號。這些信號被收集器接收并放大后,送到顯像管上形成與樣品表面特征相對應(yīng)的畫面。在操作SEM時,首先需要確保設(shè)備及其附屬設(shè)備(如真空系統(tǒng)、冷卻系統(tǒng))處于正常工作狀態(tài),并進行預熱。然后,將準備好的樣品放置在樣品臺上,關(guān)閉真空腔并啟動真空泵進行抽真空。接下來,根據(jù)樣...

  • 202412-2
    電子顯微鏡在半導體工業(yè)中的應(yīng)用與挑戰(zhàn)

    電子顯微鏡作為半導體工業(yè)中的工具,發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。其高分辨率成像能力使得研究人員能夠深入到納米級別,精確檢測和分析半導體材料中的各種微觀結(jié)構(gòu)和缺陷。在半導體制造過程中,電子顯微鏡被廣泛應(yīng)用于質(zhì)量檢測、結(jié)構(gòu)分析、失效分析和能譜分析等環(huán)節(jié)。通過電子顯微鏡,研究人員可以觀察到半導體芯片和封裝材料的內(nèi)部結(jié)構(gòu),檢測出其中的缺陷、裂紋、氣泡等微觀結(jié)構(gòu)問題,確保產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。同時,電子顯微鏡還可以對半導體材料進行元素分析,確定材料中的元素含量和化學狀態(tài),為材料研發(fā)和工藝控制提供...

  • 202411-15
    TEM斷層掃描系統(tǒng)為材料的性能提升與失效分析提供了寶貴的依據(jù)

    TEM斷層掃描系統(tǒng)是結(jié)合了透射電子顯微鏡的高分辨率成像能力與斷層掃描技術(shù)的三維重構(gòu)能力。這一組合使得科學家們能夠以精度,對微小樣品進行逐層掃描,進而構(gòu)建出其在三維空間中的完整結(jié)構(gòu)。這一技術(shù)的出現(xiàn),無疑為材料科學、生物學、醫(yī)學等多個領(lǐng)域的研究開辟了新的道路。在材料科學領(lǐng)域,TEM斷層掃描系統(tǒng)為納米材料的研發(fā)提供了強有力的支持。通過精確測量納米顆粒的形狀、尺寸以及分布,科學家們能夠更深入地理解材料的性能與結(jié)構(gòu)之間的關(guān)系,從而指導新材料的合成與優(yōu)化。此外,該技術(shù)還能揭示材料在微觀尺...

  • 202411-7
    探索微觀世界:SEM掃描電鏡在材料科學中的應(yīng)用

    SEM掃描電鏡,即掃描電子顯微鏡,作為一種強大的微觀分析工具,在材料科學領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用。其高分辨率、強景深和能譜分析功能,使其成為研究材料微觀結(jié)構(gòu)和性能的工具。在材料科學研究中,SEM掃描電鏡可用于觀察材料的表面形貌、晶體結(jié)構(gòu)、晶粒大小和形狀等。通過SEM的高分辨率圖像,研究人員能夠清晰地看到材料表面的微小結(jié)構(gòu),如紋理、缺陷和裂紋等,這對于理解材料的力學性能和化學性能至關(guān)重要。此外,SEM掃描電鏡還可以進行能譜分析,幫助識別材料的化學成分和分布情況。這對于研究材料的成分、...

  • 202410-21
    ROHS金屬成分分析儀在電子產(chǎn)品質(zhì)量控制中的關(guān)鍵角色

    在當今科技日新月異的時代,電子產(chǎn)品已成為我們?nèi)粘I钪械囊徊糠?。然而,隨著電子產(chǎn)品使用的普及,其安全性和環(huán)保性也日益受到關(guān)注。ROHS(限制使用某些有害物質(zhì))指令的出臺,正是為了規(guī)范電子產(chǎn)品中有害物質(zhì)的含量,確保消費者的健康和安全。在這一背景下,ROHS金屬成分分析儀在電子產(chǎn)品質(zhì)量控制中扮演著至關(guān)重要的角色。ROHS金屬成分分析儀是一種專門用于檢測電子產(chǎn)品中金屬成分及其有害物質(zhì)含量的高精度儀器。它能夠快速、準確地分析出電子產(chǎn)品中鉛、汞、鎘、六價鉻、多溴聯(lián)苯和多溴二苯醚等有害物...

  • 202410-14
    SEM掃描電鏡技術(shù):原理、優(yōu)勢與應(yīng)用

    SEM掃描電鏡技術(shù)是一種利用聚焦電子束掃描樣品表面,通過檢測電子與樣品相互作用產(chǎn)生的信號來獲取樣品表面形貌和成分信息的高分辨率顯微鏡技術(shù)。其工作原理類似于在暗室中使用手電筒掃描物體,只不過SEM使用電子束代替手電筒,電子探測器代替眼睛,而觀察屏幕和照相機則作為圖像的存儲器。當電子束與樣品相互作用時,會產(chǎn)生二次電子、背散射電子等信號,這些信號被探測器捕獲并放大,最終在顯示器上形成與樣品表面特征相對應(yīng)的畫面。SEM掃描電鏡具有許多優(yōu)勢。首先,其分辨率,通??蛇_納米級別,能夠觀察到...

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